intelliwave中文版能夠很好地進(jìn)行所需的各項(xiàng)自動(dòng)化質(zhì)量檢測，為你帶來相位測量服務(wù)，支持干涉條紋的描繪功能，能夠很好地實(shí)現(xiàn)光程差的計(jì)算，幫助用戶們應(yīng)用到圖像加工等眾多行業(yè)帶來最佳的使用體驗(yàn)！

intelliwave 漢化版介紹

Intelliwave是一種功能強(qiáng)大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件，通常用于量測許多表面（材料）的外形（或是其他特性），包括鏡子、透鏡、半導(dǎo)體芯片、和其它許多反射或不反射的表面。為了推斷鏡片表面外形，Intelliwave需要制造一個(gè)光學(xué)相位差來獲得干涉圖形，因?yàn)楦缮鏃l紋圖是干涉儀中的測試光及參考光的光程差而形成，藉著干涉圖形的處理，主要在于鑒定待測光學(xué)儀器的表面外型。Intelliwave 結(jié)合了攫取、輸入、分析、以及許多實(shí)際干涉圖形文檔等等特性，更提供了強(qiáng)大、快速、靈活性、容易使用、還有廣泛數(shù)據(jù)信息的優(yōu)點(diǎn)。

軟件特色

分析特性

Intelliwave提供一套完整的分析工具，包括統(tǒng)計(jì)信息、像差、繞射分析、圖象加工、以及 幾何圖象轉(zhuǎn)換。 它支持了多樣化干涉圖形的處理技術(shù)，也可把干涉圖轉(zhuǎn)換成光學(xué)相位差(OPD)或表面圖（surface map），Intelliwave還具有處理實(shí)時(shí)信息及對(duì)有雜訊的信息作有效處理。

功能介紹

使用范圍

光學(xué)統(tǒng)的動(dòng)態(tài)控制

全像攝影

極溫度（ Extreme Temperature）的應(yīng)用

天文上的應(yīng)用 : 天文鏡片、天文望遠(yuǎn)鏡

對(duì)于非球狀光學(xué)結(jié)構(gòu)有高分辨率

在半導(dǎo)體上的應(yīng)用

高功率激光的外型和反射特性的量測

光學(xué)量測